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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/2108/545

Title: Sviluppo e realizzazione di un sistema di test e calibrazione per un apparato IEEM basato su dispositivi SDRAM COTS
Authors: Salmeri, Marcello
Mongiardo, Lorenzo
Keywords: IEEM
caratterizzazione
mappa sensibilità
radiation hardness
Issue Date: 7-Jul-2008
Abstract: Questa tesi si propone di documentare le attività svolte dal gruppo di lavoro formato dal gruppo di Microelettronica del Dipartimento di Ingegneria Elettronica dell’Università di Roma “Tor Vergata”, dal Dipartimento di Fisica dell’Università degli Studi di Padova (gruppo SIRAD), dall’Istituto Nazionale di Fisica Nucleare (INFN) con le sue sezioni di Roma2 e Padova e dei Laboratori Nazionali di Legnaro, riguardo l’implementazione e la caratterizzazione di una versione originale della tecnologia chiamata Ion Electron Emission Microscopy (IEEM). L’obiettivo principale del presente lavoro è la descrizione del sistema progettato e realizzato per il test e la calibrazione di un apparato IEEM basato su dispositivi SDRAM COTS (Commercial Off The Shelf). Una porzione significativa del programma di ricerca svolto a SIRAD riguarda lo studio di SEE (Single Event Effect) in diversi Application Specific Integrated Circuits (ASIC) e, più in generale, la caratterizzazione di apparati quali SDRAM, FP...
Description: 20. ciclo
URI: http://hdl.handle.net/2108/545
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